转换器接口技术 第2辑 ST-711和ST-732模拟A/D-D/A计算机I/O系统PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载

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序言1

第一章 引论2

1.1 概述2

1.2 功能介绍2

1.3 技术指标4

总体指标4

模拟输入4

编程与体系结构6

模拟输出6

电压输出6

电流环输出7

接口连接器7

物理特征7

电源功耗8

第二章 体系结构和编程9

2.1 概述9

2.1.1 重复单一通道输入9

2.1.2 顺序输入扫描9

2.1.3 随机通道输入9

2.2 存贮器基本地址分配9

2.3 读／写格式10

2.3.1 命令寄存器（M+0，写）10

2.3.2 状态寄存器（M+0，读）11

2.3.3 增益和多路转接器地址寄存器（M+1，写／读）11

2.3.4 末通道寄存器（M+2，写）12

2.3.5 清除中断位（M+3，写）12

2.3.6 ADC数据（M+4、M+5，读）13

2.3.7 DAC数据（M+8、M+9，M+A、M+B，写）13

2.4 编程14

第三章 用户选择和装配15

3.1 存贮器基本地址选择15

3.2 传输回答延迟16

3.3 中断16

3.4 A/D转换器的启动17

3.5 电流环输入18

3.6 多路转接器的输入配置19

3.7 模／数转换器量程和输出编码选择19

3.8 数／模转换器输出量程和输入编入编码选择20

3.9 校准过程20

PAG失调调整21

ADC校准21

数／模转换器校准过程23

典型的DAC校准实例23

第四章 输入—输出引脚连接26

4.1 概述26

4.2 总线接口（P1）26

4.3 辅助连接器（P2）28

4.4 模拟输出连接器（J1）28

4.5 模拟输入连接器（J2和J3）28

第五章 诊断测试程序31

5.1 概述31

5.2 测试方式31

5.2.1 PGA失调调整（控制字符—C）31

5.2.2 A/D校准测试（控制字符—D）31

5.2.3 A/D扫描测试（控制字符—E）32

5.2.4 起搏器和中断测试（控制字符—F）32

5.2.5 D/A校准测试（控制字符—G）32

5.2.6 D/A锯齿波测试（控制字符—H）32

5.3 测试设备33

5.4 诊断程序装入33

5.5 启动测试程序33

5.6 典型的诊断测试过程34

5.7 诊断程序清单35

5.8 诊断测试程序说明49

5.8.1 概述49

5.8.2 诊断测试程序流程图50

5.8.3 子程序库51

键盘输入例行程序51

打印回车换行例行程序52

打印例行程序52

十六进制ASCII码转换成二进制例行程序53

二进制转换成ASCII例行程序54

输出四个十六进制数据例行程序54

输入十六进制字符的例行程序56

5.8.4 诊断测试功能模块57

D/A锯齿波测试模块57

D/A校准测试模块57

PGA失调调整测试模块58

A/D校准测试模块59

A/D扫描测试模块61

起搏器和中断测试模块64

第六章 ST—732编程举例68

6.1 伪指令表68

6.2 ADC非中断子程序69

6.2.1 LDDATA子程序69

6.2.2 读随机通道非中断子程序69

6.2.3 读重复单一通道非中断子程序70

6.2.4 顺序通道非中断子程序（SCAN）171

6.2.5 顺序通道非中断子程序（SCAN0）272

6.3 ADC中断程序编程76

6.3.1 中断服务子程序76

EOC中断服务76

EOS中断服务78

6.3.2 中断子程序78

用起搏器时钟启动的顺序通道扫描78

用起搏器时钟启动的重复单一通道方式79

起搏器时钟启动的随机通道方式80

程序启动的顺序通道扫描方式80

程序启动的重复单一通道方式81

程序启动的随机通道方式81

6.3.3 中断编程举例82

连续转换举例82

有限连续转换举例83

重复单一通道（Ⅰ）举例84

重复单一通道（Ⅱ）举例84

第七章 ST—732的主要器件86

7.1 模拟器件86

7.1.1 16通道CMOS多路转接器MX—160686

特点86

概述86

技术指标87

结构和引脚排列88

技术说明89

7.1.2 带采样保持器的12位微电子A/D转换器ADC-HS12B92

特点92

概述92

结构和引脚排列93

技术指标94

技术说明96

使用说明98

校准过程100

7.1.3 带输入寄存器的12位混合工艺D/A转换器DAC—HK系列101

特点101

概述101

技术指标102

技术说明104

结构和引脚排列104

DAC—HK12的使用105

校准过程108

7.1.4 SPST CMOS模拟开关HI—201109

特点109

概述110

技术指标110

7.1.5 单片JFET输入的宽带运算放大器LF356114

应用场合114

特点114

技术指标114

7.1.6 通用运算放大器LM741116

7.1.7 电源模块BPM—15/15？—D5118

7.2 数字器件119

第八章 ST—732硬件分析129

8.1 概述129

8.2 ST—732控制原理129

8.2.1 多总线和定时129

8.2.2 基本地址译码和禁止信号产生电路133

8.2.3 板内地址译码和控制信号产生电路134

8.2.4 总线收发电路136

8.2.5 装入命令（写M+0）137

8.2.6 传输响应延迟产生电路137

8.2.7 装入PGA和通道地址（写M+1）138

8.2.8 装入末通道地址（写M+2）和EOS产生电路139

8.2.9 数字多路转接器和板忙触发器140

8.2.10 ADC控制逻辑142

8.2.11 中断控制电路145

8.3 A/D转换147

8.3.1 ADC定时逻辑147

8.3.2 通道转接器149

8.3.3 可编程增益放大器150

8.3.4 A/D转换器151

8.3.5 A/D运行时间的估算151

8.3.6 通道的扩展问题153

8.4 D/A转换155

8.4.1 保持寄存器155

8.4.2 D/A转换器155

8.4.3 电流环驱动电路155

8.4.4 DAC的通道扩展155

附录：ST—711/732逻辑图（四幅）158