图书介绍

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可靠性试验及其统计分析
  • 戴树森编 著
  • 出版社: 北京:国防工业出版社
  • ISBN:15034·2613
  • 出版时间:1984
  • 标注页数:532页
  • 文件大小:13MB
  • 文件页数:537页
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图书目录

目录1

第十二章 极大似然估计1

§12.1极大似然估计1

§12.2完全寿命试验中参数的极大似然估计6

§12.3定时、定数截尾寿命试验中参数的极大似然估计18

§12.4定时测试截尾寿命试验中参数的极大似然估计33

§12.5恒定应力加速寿命试验中参数的极大44

似然估计(Ⅰ)——威布尔分布情况44

§12.6恒定应力加速寿命试验中参数的极大55

似然估计(Ⅱ)——对数正态分布情况55

附录 极大似然估计方法中的数值计算问题67

附表82

参考资料94

第十三章 关于指数分布的某些统计推断96

§13.1前言96

§13.2关于单参数指数分布的点估计98

§13.3关于单参数指数分布的区间估计125

§13.4单参数指数分布的可靠度R(t0)的最小方差无偏估计量162

§13.5两参数指数分布的点估计163

§13.6两参数指数分布的区间估计173

§13.7对θ=θ0(或λ=λ0)的假设检验179

(单参数指数分布的情形)179

§13.8对θ1=θ2(或λ1=λ2)的假设检验245

(单参数指数分布的情形)245

§13.9对θ1=θ2=…=θk的假设检验(单参数指数分布的情形)247

§13.10对是否符合指数分布的检验251

附录257

附录13-1尼曼-皮尔逊(Neyman--Pearson)引理257

附录13-2关于检验简单的原假设H0和简258

单的备择假设H1的序贯概率比检验258

附表和附图260

参考资料301

§14.1引言305

第十四章 假设检验305

§14.2分布的检验308

§14.3用似然比检验区分两个具有未知位置参数和尺度参数的分布324

§14.4分布函数的偏度和峰度检验333

§14.5参数的假设检验339

§14.6数据是否来自同一分布的检验——异常数据检验360

附表384

参考资料394

第十五章 可靠性抽样验证试验397

§15.1引言397

§15.2指数分布的失效率试验398

§15.3失效率、置信度、允许失效数和总试验时间的关系408

§15.4威布尔分布的抽样验证试验411

参考资料441

§16.1引言442

第十六章 可靠性筛选442

§16.2筛选时间的确定445

§16.3应力强度模型454

§16.4线性判别筛选465

附录0,1回归分析与线性判别分析的等价性483

参考资料486

第十七章 加速寿命方程的物理分析487

§17.1引言487

§17.2阿伦尼斯方程487

§17.3简单电真空器件失效机理的分析501

§17.4半导体器件金属化部分失效机理与阿伦尼斯方程的关系513

附录525

附录17-1分子的碰撞频率525

附录17-2计算激活能△E及K值实例527

附录17-3绝对反应速度理论529

参考资料532

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