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晶体管原理
  • 张国忠主编 著
  • 出版社: 天津:天津科学技术出版社
  • ISBN:15212·110
  • 出版时间:1983
  • 标注页数:173页
  • 文件大小:4MB
  • 文件页数:178页
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图书目录

目录1

第一章 半导体物理基础1

§1-1半导体1

§1-2半导体中的能带4

§1-3半导体中的载流子11

§1-4费米能级15

§1-5非平衡载流子20

§1-6载流子的输运28

§1-7半导体表面43

§1-8晶格和缺陷47

复习题一56

第二章 PN结58

§2-1PN结58

§2-2PN结的电流—电压特性61

§2-3空间电荷区中的复合—产生电流69

§2-4空间电荷区的电场和宽度73

§2-5PN结的击穿86

§2-6PN结的电容效应93

§2-7金属—半导体接触97

复习题二101

第三章 晶体管原理103

§3-1晶体管的电流放大特性103

§3-2晶体管的反向电流与击穿电压117

§3-3晶体管的频率特性122

§3-4晶体管的大电流和功率特性131

§3-5晶体管的开关特性140

复习题三153

第四章 场效应晶体管155

§4-1结型场效应晶体管155

§4-2MOS场效应晶体管161

复习题四169

附录170

一、室温(300K)下硅、锗、砷化镓及二氧化硅的主要性质170

二、硅、锗电阻率与杂质浓度的关系171

三、常用的物理常数171

四、半导体器件型号命名方法172

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