图书介绍
纳米数字集成电路老化效应 分析、预测及优化PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 靳松，韩银和著 著
- 出版社： 北京：清华大学出版社
- ISBN：9787302285434
- 出版时间：2012
- 标注页数：108页
- 文件大小：13MB
- 文件页数：117页
- 主题词：纳米材料－数字集成电路－老化－研究
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图书目录
第1章 绪论1
1.1 NBTI效应3
1.2工艺偏差6
1.3章节组织结构8
第2章 国际、国内研究现状10
2.1硅前老化分析和预测10
2.1.1反应-扩散模型10
2.1.2基于额定参数值的NBTI模型11
2.1.3考虑工艺偏差的老化统计模型和分析15
2.2在线电路老化预测19
2.2.1基于时延监测原理的在线老化预测方法19
2.2.2超速时延测试21
2.2.3基于测量漏电变化原理的在线老化预测方法27
2.3相关的优化方法27
2.3.1电路级优化27
2.3.2体系结构级优化29
2.4本章小结29
第3章 面向工作负载的电路老化分析和预测30
3.1老化分析和预测方法概述30
3.2关键通路和关键门的识别31
3.2.1潜在关键通路识别32
3.2.2潜在关键通路的精简32
3.2.3关键门的识别34
3.3占空比的求解35
3.3.1时延约束36
3.3.2占空比取值约束36
3.4实验及结果分析37
3.5本章小结40
第4章 电路老化的统计预测和优化41
4.1硅前电路老化的统计预测和优化42
4.1.1门级老化统计模型42
4.1.2统计关键门的识别45
4.1.3门设计尺寸缩放算法46
4.1.4实验及结果分析47
4.2硅前和硅后协同的电路老化统计分析和预测50
4.2.1方法概述51
4.2.2目标通路的识别52
4.2.3硅后学习53
4.2.4实验及结果分析54
4.3本章小结56
第5章 在线电路老化预测58
5.1基于时延监测原理的在线电路老化预测方法58
5.1.1双功能时钟信号生成电路59
5.1.2抗工艺偏差影响的设计考虑65
5.1.3实验及结果分析66
5.2基于测量漏电变化原理的在线电路老化预测方法73
5.2.1漏电变化与时延变化之间相关性的刻画75
5.2.2漏电变化的测量77
5.2.3实验及结果分析80
5.3本章小结83
第6章 多向量方法优化电路老化和漏电84
6.1单独优化NBTI效应导致的电路老化85
6.1.1控制向量的生成85
6.1.2最佳占空比的求解86
6.1.3硬件实现87
6.1.4实验及结果分析88
6.2电路老化和静态漏电的协同优化89
6.2.1协同优化模型90
6.2.2最佳占空比的求解92
6.2.3实验及结果分析92
6.3本章小结95
第7章 总结与未来研究工作展望96
7.1研究内容总结96
7.2未来研究工作展望98
参考文献100