图书介绍

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X射线衍射实验技术
  • 何崇智等编著 著
  • 出版社: 上海:上海科学技术出版社
  • ISBN:7532306437
  • 出版时间:1988
  • 标注页数:438页
  • 文件大小:16MB
  • 文件页数:448页
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图书目录

第一章 X射线物理学概要1

1 X射线的产生及其本性1

2 X射线谱3

3 X射线与物质交互作用的基本现象7

4 X射线的探测和防护11

第二章 晶体学与倒易点阵13

1 点阵13

2 点阵方向及点阵平面14

3 对称16

4 点群17

5 晶系18

6 布拉菲点阵(平移群)19

7 空间群22

8 倒易点阵24

第三章 X射线衍射原理28

1 衍射的基本方程与瓦尔德图解法28

2 X射线的衍射方法31

3 结构因子与点阵消光法则32

4 完整小晶体的衍射强度和干涉函数37

5 多晶体衍射强度39

第四章 多晶体粉末照相45

1 德拜照相成相原理45

2 德拜相机46

3 试样制备与调整47

4 底片安装方式48

5 辐射及滤波片的选择49

6 曝光时间51

7 衍射线位置的测量52

8 衍射花样的晶面指数标定52

9 聚焦相机58

参考文献69

第五章 X射线衍射仪71

1 引言71

2 X射线光源73

3 X射线测角仪78

4 探测与记录系统94

5 微型电子计算机对衍射仪的运控、测量和数据处理101

6 衍射仪主要技术指标与验收104

7 实验与测量方法108

参考文献116

第六章 多晶体X射线相分析118

1 引言118

2 JCPDS粉末衍射卡片及索引119

3 X射线衍射相分析方法123

4 电子计算机自动检索方法128

5 多晶体相分析中存在的一些问题132

6 单颗微粒的X射线相分析135

参考文献139

第七章 X射线衍射定量相分析140

1 引言140

2 定量相分析的基本原理141

3 外标法142

4 内标法143

5 基体冲洗法及绝热法145

6 联立方程法150

7 直接比较法152

8 应注意的几个问题158

参考文献159

第八章 点阵参数的精确测定161

1 一般考虑162

2 德拜-谢乐照相法164

3 用衍射仪法测定点阵参数171

4 点阵参数测定的实际应用176

参考文献179

第九章 单晶取向的测定181

1 极射赤面投影和心射切面投影181

2 晶体坐标网184

3 劳厄照相法195

4 衍射仪法212

参考文献213

第十章 金属材料织构的测定214

1 引言214

2 织构的类型及其描述方法216

3 轴向对称织构的测定221

4 板材织构(极图)的测定226

5 反极图的测定241

6 织构分析的取向分布函数法245

7 结束语257

参考文献258

第十一章 面心立方金属与合金的堆垛层错能测定259

1 引言259

2 层错能测量的X射线线形分析方法260

3 两个重要的经验关系式262

4 面心立方金属和合金堆垛层错能的测定--X射线织构法264

参考文献272

第十二章 有序无序转变274

1 长程有序度的定义274

2 有序化的X射线衍射效应275

3 形成超点阵线的物理原因276

4 实验及计算278

5 近程有序度的测定279

参考文献282

第十三章 显微畸变和嵌镶碎化尺寸的X射线分析283

1 近似函数图解法284

2 瓦伦-艾弗巴赫傅氏分析法329

3 方差分析法348

附录350

参考文献361

第十四章 宏观残余应力测定363

1 引言363

2 宏观残余应力的测量原理和方法364

3 应力常数的确定及定峰方法370

4 X射线应力分析仪器376

5 样品状态对应力测定的影响380

6 侧倾法382

7 应力测定中的一些问题388

参考文献390

第十五章 调幅结构的X射线分析392

1 不完整晶体X射线衍射强度的普遍公式393

2 调幅结构的衍射图象及形成原理399

3 实验技术405

4 应用实例406

参考文献409

附录411

1.元素的特征谱及吸收限波长×10(?)411

2.质量吸收系数μι/ρ及密度ρ413

3.原子散射因子f415

4.△f′к数值418

5.△f″к数值420

6.元素原子的散射能参数δк420

7.德拜函数Φ(x)数值421

8.德拜函数?+?数值421

9.德拜-瓦伦温度因子е-Bsln?/λ3=e-M422

10.立方晶系晶面(或晶向)间夹角424

11.六角晶系晶面间夹角(°)431

12.透射法在不同ɑ°、2θ°和e-μt条件下的强度校正因子?×100432

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